FT-IR Spectrometer INVENIO

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• FT-IR Spectrometer INVENIO

  

  產品描述

  技術細節
  INVENIO集一系列引人注目的創新成果於一體。我們相信INVENIO是工業或純科學領域大多數分析問題的通用解決方案。
  

  堅固的干涉儀
  永久免校正的RockSolid^TM 干涉儀，抗震耐熱。其耐磨損的樞軸機構和高通量設計使其即使在惡劣的環境中也能保證出色的靈敏度、穩定性和可靠性
  

  可靠的光源
  CenterGlow^TM 是布魯克用來控制光源消耗、保持儀器的最佳性能、延長使用壽命的技術。此外還有兩個內部光源位置和兩個均可利用內部光闌的外部輸入端口。
  

  世界領先自動化程度- INTEGRAL^TM
  舒適操作，值得信賴。新型INTEGRAL^TM 干涉儀得益於高精準立體角鏡和即時校準分束器切換輪，達到完美的分束器位置精度。結合MultiTect^TM 5位探測器技術、Digitec^TM 檢測器位置和多光源選項，可在無需手動更換任何光學元件的情況下，以最佳性能覆蓋從28000cm -1 到15cm -1 的完整光譜範圍。全光譜範圍內各種分束器，如KBr 、CaF2 、quartz 、多層膜、米納膜和Si，全都適用。
  
  MultiTect^TM 檢測器技術可同時自動控制多達5 個室溫檢測器，諸如DTGS 、InGaAs 、矽二極管或GaP 等。此外，DigiTect^TM 檢測器插槽可用於其它特殊檢測器，諸如液氮冷卻檢測器。MultiTect^TM 檢測器單元通過軟件來自動選擇這些檢測器，以覆蓋從遠紅外、近紅外至紫外/可見光的整個光譜範圍。

  隨時可升級更新
  如果您的分析需求出現任何變化，需要更新光譜功能時，INVENIO 的每個可選功能也支持進行改裝。

  充分的採樣靈活性
  微觀和宏觀FPA成像技術改進版QuickLock附件座的前方帶有鎖定和釋放按鈕，您可以輕鬆插入和固定大型採樣裝置。另外，INVENIO還能配備三個軟件可選的出射口，用於多個外部模塊：

• • HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡
  • 微觀和宏觀FPA成像技術
  • RAM II 傅立葉變換拉曼和PL II光致發光模
  • TGA-FTIR 模塊
  • PMA 50，即用於VCD 和PM-IRRAS的偏振調製附件
  • 用於定制化實驗的可變外部樣品室（左和右）
  • 帶光纖探頭的光纖耦合單元（用於固體和液體）
  • 外部積分球