XPREP C-IC (Combustion IC) 熱裂解鹵素離子分析儀
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XPREP C-IC (Combustion IC) 熱裂解鹵素離子分析儀
產品描述
TE Instruments因應最新法規需求提供鹵素離子檢測分析.系統包含高溫裂解樣品前處理裝置, 樣品收集Fraction Collector及開放式離子層析系統(Ion Chromatography System). 其中XPREP 高溫裂解樣品前處理系統可搭配與XPLORER系統相容共用之液體/固體/氣體自動進樣器,無須額外費,擴充相容性佳,是目前市面上唯一可以執行液體/固體/氣體(LPG & Gas)樣品型態進樣分析的鹵素族離子檢測分析系統(Fluor, Chlorine, Bromine, Iodine and sulfur compounds).
TEI XPREP C-IC系統除可一對一連接IC進行on-line連續分析之外亦可藉由本機強大的Fraction Collector搭配高通量65 sample capacity設計可以連續進行樣品前處理搭配多台IC(離子層析儀)使用達到一對多高通量樣品分析.
相關應用法規: ASTM D5987, D7359, D7994, D8150, UOP991, UOP1001